机译:键合参数对微间距Cu / Ni / SnAg微凸点微芯片芯片间互连可靠性的影响
机译:AG和AG-4PD螺栓凸起与SN-3AG-0.5CU焊料的互晶反应,用于倒装芯片包装
机译:金钉凸点与Sn-0.7Cu焊料用于倒装芯片功率器件封装的混合互连的微结构和可靠性
机译:基于Cu Stud凸块芯片到芯片封装的Cu Stump Bump的第一级互连
机译:芯片间互连,用于非常高速的系统级集成。
机译:倒装芯片封装系统的碳纳米管凸点
机译:使用焊接Cu柱凸块的Au电镀焊盘上的外围倒装芯片互连