延迟电路、测试装置、半导体芯片、初始化电路及初始化方法

摘要

本发明提供一种延迟电路、测试装置、半导体芯片、初始化电路及初始化方法。延迟电路包括：第1延迟元件；第2延迟元件；及测量第1延迟元件对每个延迟设定值产生的延迟量且对第1延迟元件进行初始化的初始化部。初始化部包括：将第1延迟元件的输出信号输入到第1延迟元件的第1循环路径；将第2延迟元件的输出信号输入到第2延迟元件的第2循环路径；对第1延迟元件依次设定不同的延迟设定值，依次测量第1延迟元件中的延迟量的第1测量部；使第2延迟元件的延迟设定值不发生变化，和第1测量部同步测量第2延迟元件中的延迟量的第2测量部；用第2测量部与相应延迟量同步测量所得延迟量，来补正第1测量部测得的延迟量的延迟量计算部。