首页> 中国专利> 提高标准单元库性能的测量装置

提高标准单元库性能的测量装置

摘要

本文披露了一种测量装置,当在不同的测试元件组(TEGs)中使用环形振荡器来检验标准单元库的性能时,该测量装置用来提高标准单元库中的标准单元的性能。使用一种内置电路通过TEG来测量并检验标准单元库的性能。因此,可以有效地提高标准单元库中的标准单元的性能。特别地,不仅可以消除测量者的人为误差或设备自身的误差,而且还可以更方便地,更快速地和更精确地执行测量。此外,可以节约测量过程中所需的高性能设备或人力和时间。

著录项

  • 公开/公告号CN101334440B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-06-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 东部高科股份有限公司;

    申请/专利号CN200810126243.4

  • 发明设计人 金成轩;申又澈;赵敬淳;

    申请日2008-06-26

  • 分类号G01R31/00(20060101);

  • 代理机构11134 北京博浩百睿知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人宋子良;李占平

  • 地址 韩国首尔

  • 入库时间 2022-08-23 09:09:57

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-08-13

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 31/00 授权公告日:20120613 终止日期:20130626 申请日:20080626

    专利权的终止

  • 2012-06-13

    授权

    授权

  • 2009-02-25

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-12-31

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号