首页> 中国专利> 一种硅膜压阻压力传感器的制造方法及其传感器

一种硅膜压阻压力传感器的制造方法及其传感器

摘要

本发明提供了一种正面加工硅膜压阻压力传感器及其制造方法,该传感器的特点是硅膜下的空腔是从衬底硅体内镂空形成的空腔腔体,它的形成步骤a、在衬底硅膜设计区的下方及两侧进行重掺杂,形成连通的低阻区;b、采用阳极氧化技术,使低阻区的硅转变成多孔硅;c、用腐蚀液腐蚀多孔硅;d、用淀积物填平硅膜两侧腐蚀多孔硅后形成的腔体开口。采用这种方法使器件成本低、性能可靠、易于集成和大批量生产。

著录项

  • 公开/公告号CN1027519C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日1995-01-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 涂相征;李韫言;

    申请/专利号CN90104145.9

  • 发明设计人 涂相征;李韫言;

    申请日1990-06-08

  • 分类号G01L1/18;

  • 代理机构中国科学院专利事务所;

  • 代理人李素敏

  • 地址 100009 北京市东城区北河胡同14号

  • 入库时间 2022-08-23 08:54:27

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2003-08-06

    专利权的终止未缴年费专利权终止

    专利权的终止未缴年费专利权终止

  • 2002-04-24

    其他有关事项 其他有关事项:1992年12月31日以前的发明专利申请,授予专利权且现仍有效的,其保护期限从15年延长到20年。根据国家知识产权局第80号公告的规定,下述发明专利权的期限由从申请日起十五年延长为二十年。在专利权的有效期内,所有的专利事务手续按照现行专利法和实施细则的有关规定办理。 申请日:19900608

    其他有关事项

  • 1995-01-25

    授权

    授权

  • 1992-03-11

    实质审查请求已生效的专利申请

    实质审查请求已生效的专利申请

  • 1991-12-25

    公开

    公开

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