首页> 中国专利> 用由假图形所形成的光刻胶掩模将层精确构图成目标图形的方法

用由假图形所形成的光刻胶掩模将层精确构图成目标图形的方法

摘要

由于显影后烘烤中的收缩而使光刻胶掩模(23a)的表面中出现张力,而形成于光刻胶掩膜中的粘附力(23c)吸收了该张力,因而保持对半导体衬底(22)粘附力,防止了光刻胶图形出现不希望的变形(图3D)。

著录项

  • 公开/公告号CN1106029C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2003-04-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 NEC化合物半导体器件株式会社;

    申请/专利号CN95113199.0

  • 发明设计人 佐仓直喜;

    申请日1995-12-28

  • 分类号H01L21/027;G03C5/00;

  • 代理机构72001 中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人萧掬昌;邹光新

  • 地址 日本神奈川县川崎市

  • 入库时间 2022-08-23 08:55:50

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2008-02-27

    专利权的终止(未缴年费专利权终止)

    专利权的终止(未缴年费专利权终止)

  • 2008-02-27

    专利权的终止(未缴年费专利权终止)

    专利权的终止(未缴年费专利权终止)

  • 2003-04-16

    授权

    授权

  • 2003-04-16

    授权

    授权

  • 2003-02-19

    专利申请权、专利权的转移专利权的转移 变更前: 变更后: 登记生效日:20030110 申请日:19951228

    专利申请权、专利权的转移专利权的转移

  • 2003-02-19

    专利申请权、专利权的转移专利权的转移 变更前: 变更后: 登记生效日:20030110 申请日:19951228

    专利申请权、专利权的转移专利权的转移

  • 2003-02-19

    专利申请权、专利权的转移专利权的转移 变更前: 变更后: 登记生效日:20030110 申请日:19951228

    专利申请权、专利权的转移专利权的转移

  • 1998-06-03

    公开

    公开

  • 1998-06-03

    公开

    公开

  • 1997-08-20

    实质审查请求的生效

    实质审查请求的生效

  • 1997-08-20

    实质审查请求的生效

    实质审查请求的生效

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