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掺杂区、阱区形成方法和基底图形化方法

摘要

一种掺杂区形成方法,包括:在基底上形成栅极;在具有所述栅极的基底上形成图形化的抗蚀剂层;以所述抗蚀剂层为掩模,对具有所述栅极的基底执行离子注入操作;利用缓冲气体去除所述抗蚀剂层,形成掺杂区。本发明还提供了一种阱区形成方法和一种基底图形化方法。可减小完成清洗操作后在所述掺杂区、阱区或基底表面产生凹陷的深度。

著录项

  • 公开/公告号CN101593697B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-01-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN200810113985.3

  • 发明设计人 韩宝东;韩秋华;

    申请日2008-05-30

  • 分类号

  • 代理机构北京集佳知识产权代理有限公司;

  • 代理人李丽

  • 地址 100176 北京市北京经济技术开发区文昌大道18号

  • 入库时间 2022-08-23 09:08:58

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-01-18

    授权

    授权

  • 2010-01-27

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-12-02

    公开

    公开

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