公开/公告号CN1983025B
专利类型发明专利
公开/公告日2011-07-27
原文格式PDF
申请/专利权人 富士通半导体股份有限公司;
申请/专利号CN200610073621.8
申请日2006-04-13
分类号
代理机构隆天国际知识产权代理有限公司;
代理人王玉双
地址 日本神奈川县横浜市
入库时间 2022-08-23 09:07:18
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2014-06-04
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G03F 1/14 授权公告日:20110727 终止日期:20130413 申请日:20060413
专利权的终止
2011-07-27
授权
授权
2008-12-03
专利申请权、专利权的转移(专利申请权的转移) 变更前: 变更后: 登记生效日:20081107 申请日:20060413
专利申请权、专利权的转移(专利申请权的转移)
2007-08-15
实质审查的生效
实质审查的生效
2007-06-20
公开
公开
机译: 制造光掩模的方法,掩模图案形状评估设备,判断光掩模缺陷校正部分的方法,光掩模缺陷校正部分判断设备以及半导体器件的制造方法
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