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一种基于光学的模型试验位移测量方法

摘要

本发明公开了一种基于光学的模型试验位移测量方法及装置,属于测量技术领域。主要技术方案是在被测试模型上设置标志点,通过摄像设备进行图像采集,并提取不同时刻的图像。将提取到的图像导入测试分析系统,可以得到各测试点的位移或变形。本发明可以实时记录模型标记点的变形过程,并通过数字图像处理得到满足较高精度要求的位移。该测试系统能用来进行较高精度的模型试验中位移测量。

著录项

  • 公开/公告号CN101033962B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2011-07-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 三峡大学;

    申请/专利号CN200710051571.8

  • 申请日2007-02-12

  • 分类号G01C11/06(20060101);

  • 代理机构42103 宜昌市三峡专利事务所;

  • 代理人成钢

  • 地址 443002 湖北省宜昌市大学路8号

  • 入库时间 2022-08-23 09:07:12

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-04-01

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01C 11/06 授权公告日:20110720 终止日期:20140212 申请日:20070212

    专利权的终止

  • 2011-07-20

    授权

    授权

  • 2010-05-05

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01C 11/06 申请日:20070212

    实质审查的生效

  • 2007-09-12

    公开

    公开

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