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用于将间距倍增大于2的因数的单个间隔物工艺及相关中间IC结构

摘要

本发明提供用于将间距倍增大于2的因数的单个间隔物工艺。在一个实施例中,在衬底上方形成n(其中n≥2)层堆叠心轴(150b)、(140a),所述n层中的每一者包含彼此大致平行的多个心轴(150b)、(140a)。层n处的心轴(150b)在层n-1处的心轴(140a)上方且平行于心轴(140a),且层n处的邻接心轴之间的距离大于层n-1处的邻接心轴之间的距离。同时在心轴(150b)、(140a)的侧壁上形成间隔物(185)。蚀刻掉心轴(150b)、(140a)的暴露部分且将由间隔物(185)界定的线图案转移到衬底(110)。

著录项

  • 公开/公告号CN101529557B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2011-06-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 美光科技公司;

    申请/专利号CN200780037993.8

  • 申请日2007-08-20

  • 分类号

  • 代理机构北京律盟知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人王允方

  • 地址 美国爱达荷州

  • 入库时间 2022-08-23 09:07:03

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2011-06-15

    授权

    授权

  • 2009-11-04

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-09-09

    公开

    公开

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