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半导体器件键合装置以及使用该装置键合半导体器件的方法

摘要

本发明的半导体器件键合装置1包括:施压部件15,在将凸起14设置在半导体器件10和衬底11之间的状态下,将半导体器件10压向衬底11一侧;超声波振动施加部件16,通过将超声波振动施加到半导体器件10和衬底11中的至少一个,使半导体器件10和衬底11相对振动;时间测量部件17,测量从开始施加超声波振动时的时间到按压半导体器件达预定距离时的时间所需的时间段;以及控制部件18,基于由时间测量部件17测量到的时间段,在随后的键合过程中控制超声波振动的输出。

著录项

  • 公开/公告号CN101128914B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2011-03-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 松下电器产业株式会社;

    申请/专利号CN200680006043.4

  • 申请日2006-06-07

  • 分类号

  • 代理机构永新专利商标代理有限公司;

  • 代理人王英

  • 地址 日本大阪府

  • 入库时间 2022-08-23 09:06:18

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-08-03

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 21/00 授权公告日:20110316 终止日期:20150607 申请日:20060607

    专利权的终止

  • 2011-03-16

    授权

    授权

  • 2008-08-13

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-02-20

    公开

    公开

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