首页> 中国专利> 用于降低的掩模偏置的分开的虚拟填充形状的方法和系统

用于降低的掩模偏置的分开的虚拟填充形状的方法和系统

摘要

一种使用交替相移掩模,或者其它采用修整掩模的双掩模光刻工艺,用于降低的掩模偏置的分开的虚拟填充形状的方法和系统。所述方法和系统包括,在已完成的半导体设计中对不含所设计的形状的区域定位。所述方法和系统在所述区域中以预定的最终密度生成虚拟填充形状,调整所生成的虚拟填充形状的尺寸,以使得其局部密度被增大到预定值。所述方法和系统还建立相应的修整形状,用于对所述虚拟形状的超尺寸部分进行曝光,从而有效地修整每一个虚拟形状以使其回到所述预定的最终密度。所述方法和系统可以在包含含有计算机可读程序的计算机可用介质的计算机程序产品上实施。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-12-08

    专利权的转移 IPC(主分类):G06F 17/50 登记生效日:20171121 变更前: 变更后: 申请日:20070929

    专利申请权、专利权的转移

  • 2017-12-08

    专利权的转移 IPC(主分类):G06F 17/50 登记生效日:20171121 变更前: 变更后: 申请日:20070929

    专利申请权、专利权的转移

  • 2011-04-13

    授权

    授权

  • 2011-04-13

    授权

    授权

  • 2008-06-04

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-06-04

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-04-09

    公开

    公开

  • 2008-04-09

    公开

    公开

查看全部

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号