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具有应变沟道CMOS晶体管的结构及其制造方法

摘要

本发明提供了这样的结构和方法,其中p-型场效应晶体管(PFET)和n-型场效应晶体管(NFET)每个都具有在第一半导体的单晶层中设置的沟道区,一应力以第一量值施加给PFET的沟道区,但不施加给NFET的沟道区。通过与第一半导体晶格失配的第二半导体施加该应力。第二半导体的层以距PFET的沟道区第一距离形成在PFET的源极区和漏极区和延伸区上,并以距NFET的沟道区的更大的第二距离形成在NFET的源极区和漏极区上,或者在NFET中根本不形成。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-12-01

    专利权的转移 IPC(主分类):H01L 29/73 登记生效日:20171114 变更前: 变更后: 申请日:20040830

    专利申请权、专利权的转移

  • 2017-12-01

    专利权的转移 IPC(主分类):H01L 29/73 登记生效日:20171114 变更前: 变更后: 申请日:20040830

    专利申请权、专利权的转移

  • 2011-01-19

    授权

    授权

  • 2011-01-19

    授权

    授权

  • 2007-08-15

    实质审查的生效

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  • 2007-08-15

    实质审查的生效

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  • 2007-06-20

    公开

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  • 2007-06-20

    公开

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