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三轴磁强计校正方法以及三轴磁梯度计校正方法

摘要

本发明涉及一种磁强计校正方法以及磁梯度计校正方法,尤其是涉及一种三轴磁强计校正方法以及三轴磁梯度计校正方法。本发明在无需标准三轴线圈、标准磁场及已规格化三轴磁强计的条件下对三轴磁强计和三轴磁梯度计的非正交性、轴间耦合及灵敏度不一致所产生的误差及载体磁干扰一并进行了校正。本发明以普通的三轴线圈、标量磁强计、高精度电流源组成校正装置,其校正精度与被校正的三轴磁强计单轴的测试精度同数量级。本发明在校正过程中无需转动被校正的三轴磁强计和三轴磁梯度计,操作过程简单,校正精度高,提高了三轴磁强计和三轴磁梯度计对磁场矢量测试精度。

著录项

  • 公开/公告号CN101251584B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2010-09-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 武汉大学;

    申请/专利号CN200810047287.8

  • 发明设计人 卢卓宇;刘斯;张俊杰;蒋昌忠;

    申请日2008-04-09

  • 分类号G01R35/00(20060101);G01R33/02(20060101);G01C17/02(20060101);

  • 代理机构42208 武汉天力专利事务所;

  • 代理人冯卫平;程祥

  • 地址 430072 湖北省武汉市武昌珞珈山

  • 入库时间 2022-08-23 09:05:23

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-05-24

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 35/00 授权公告日:20100929 终止日期:20160409 申请日:20080409

    专利权的终止

  • 2010-09-29

    授权

    授权

  • 2008-10-22

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-08-27

    公开

    公开

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