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非易失性半导体器件及非易失性半导体器件的擦除动作不良自动救济方法

摘要

本发明是事先将预备区块预设为空白状态,在每次实际使用的擦除操作时,将擦除脉冲数进行计数,且监视在擦除脉冲供给中有无产生过电流,并将发生了长时间擦除不良的一般区块自动切换至预备区块,如此,无须于自动备份至预备区块后对预备区块进行再擦除动作,而可救济长时间擦除的不良。

著录项

  • 公开/公告号CN101006520B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2010-05-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN200480043290.2

  • 发明设计人 新后将城;

    申请日2004-04-21

  • 分类号G11C29/00(20060101);G11C16/06(20060101);

  • 代理机构11314 北京戈程知识产权代理有限公司;

  • 代理人程伟;孙向民

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2022-08-23 09:04:15

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2010-05-05

    授权

    授权

  • 2007-09-19

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-07-25

    公开

    公开

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