公开/公告号CN1046821C
专利类型发明授权
公开/公告日1999-11-24
原文格式PDF
申请/专利权人 台湾茂矽电子股份有限公司;
申请/专利号CN95120401.7
申请日1995-12-15
分类号H01L21/31;H01L21/324;H01L21/30;
代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;
代理人卢纪
地址 台湾省新竹科学工业园研新一路一号
入库时间 2022-08-23 08:55:19
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2016-01-27
专利权有效期届满 IPC(主分类):H01L 21/31 授权公告日:19991124 申请日:19951215
专利权的终止
2016-01-27
专利权有效期届满 IPC(主分类):H01L 21/31 授权公告日:19991124 申请日:19951215
专利权的终止
2005-01-19
专利申请权、专利权的转移专利权的转移 变更前: 变更后: 登记生效日:20041210 申请日:19951215
专利申请权、专利权的转移专利权的转移
2005-01-19
专利申请权、专利权的转移专利权的转移 变更前: 变更后: 登记生效日:20041210 申请日:19951215
专利申请权、专利权的转移专利权的转移
2005-01-19
专利申请权、专利权的转移专利权的转移 变更前: 变更后: 登记生效日:20041210 申请日:19951215
专利申请权、专利权的转移专利权的转移
1999-11-24
授权
授权
1999-11-24
授权
授权
1997-12-10
实质审查请求的生效
实质审查请求的生效
1997-12-10
实质审查请求的生效
实质审查请求的生效
1997-06-18
公开
公开
1997-06-18
公开
公开
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机译: 电路装置具有双向栅极半导体继电器,该双向栅极半导体继电器是自闭合的金属氧化物半导体场效应晶体管,其中本体触点位于固定位置,并且与源触点分离
机译: 沟槽型栅极的金属氧化物半导体场效应晶体管组件的制造方法,涉及在半导体衬底中形成沟槽,并在沟槽的内壁进行栅极氧化覆膜
机译: 金属氧化物半导体场效应晶体管装置具有源极,漏极和栅极,该源极,漏极和栅极嵌入在从半导体本体突出的列和围绕该列并布置在本体上的绝缘体之间