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使用多个掩模步骤减小临界尺寸的方法

摘要

提供了一种用于在蚀刻层中形成特征的方法。在该蚀刻层上形成第一掩模,其中该第一掩模定义具有宽度的多个间隔。在该第一掩模上形成侧壁层。通过该侧壁层在该蚀刻层中蚀刻成特征,其中所述特征具有比由该第一掩模定义的间隔的宽度小的宽度。移除该掩模和侧壁层。在该蚀刻层上形成附加掩模,其中该附加掩模定义具有宽度的多个间隔。在该附加掩模上形成侧壁层。通过该侧壁层在该蚀刻层中蚀刻成特征,其中该特征的宽度小于由该第一掩模定义的间隔的宽度。移除该掩模和侧壁层。

著录项

  • 公开/公告号CN100568458C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2009-12-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 兰姆研究有限公司;

    申请/专利号CN200680011242.4

  • 发明设计人 J·马克斯;R·S·M·萨亚迪;

    申请日2006-01-20

  • 分类号H01L21/027(20060101);H01L21/31(20060101);H01L21/3213(20060101);H01L21/308(20060101);H01L21/3065(20060101);

  • 代理机构11240 北京康信知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人余刚;李丙林

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2022-08-23 09:03:29

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-01-10

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L21/027 授权公告日:20091209 终止日期:20190120 申请日:20060120

    专利权的终止

  • 2009-12-09

    授权

    授权

  • 2009-12-09

    授权

    授权

  • 2008-06-11

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-06-11

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-04-16

    公开

    公开

  • 2008-04-16

    公开

    公开

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