首页> 中国专利> 表面特性测量仪的平直度校正方法以及表面特性测量仪

表面特性测量仪的平直度校正方法以及表面特性测量仪

摘要

一种表面特性测量仪及平直度校正方法,为进行测量而旋转检测器时测量仪能根据检测器转角位置作校正操作。方法包括校正数据存储步骤,将相应于对应于粗糙度检测器设定于不同转角位置的转角位置的X轴驱动单元的移动位置的检测器校正数据存储到校正数据存储部;测量数据获取步骤,测量时获取在粗糙度检测器由旋转单元设定于对应于被测物体测量面的任何转角位置的状态下和在探测针接触被测物体测量表面的状态下驱动X轴驱动单元时作为测量数据的X轴驱动单元的移动位置和粗糙度检测器的移动量;校正计算步骤,从校正数据存储部读取与测量时粗糙度检测器转角位置一致或接近的检测器校正数据,利用所得检测器校正数据校正测量数据。

著录项

  • 公开/公告号CN100541117C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2009-09-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 三丰株式会社;

    申请/专利号CN200610051467.4

  • 发明设计人 片山实;加纳孝文;

    申请日2006-02-28

  • 分类号

  • 代理机构北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人王景刚

  • 地址 日本神奈川县

  • 入库时间 2022-08-23 09:03:13

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2009-09-16

    授权

    授权

  • 2008-03-12

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2006-10-18

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号