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用于形成双金属镶嵌结构工艺的洗涤液及基板处理方法

摘要

本发明公开了一种洗涤液,所述洗涤液,是在形成双金属镶嵌结构的过程中,蚀刻层合在具有金属层的基板上的低电介质层(low-k层),形成第1蚀刻空间,在所述第1蚀刻空间内填充保护层后,再部分地蚀刻低电介质层和保护层,形成连通所述第1蚀刻空间的第2蚀刻空间后,用于除去所述第1蚀刻空间内残存的保护层的洗涤液,所述洗涤液含有(a)1~25质量%的TMAH、胆碱等季铵氢氧化物、(b)30~70质量%的水溶性有机溶剂及(c)20~60质量%的水。本发明的洗涤液具有如下二方面效果,即在设置了金属层(Cu层等)和低电介质层的基板上形成金属配线的过程中,可以很好地除去用于形成双金属镶嵌结构的保护层,而且不造成低电介质层损坏。

著录项

  • 公开/公告号CN100504620C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2009-06-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 东京应化工业株式会社;

    申请/专利号CN03156579.4

  • 发明设计人 横井滋;肋屋和正;

    申请日2003-09-09

  • 分类号G03F7/42(20060101);H01L21/304(20060101);

  • 代理机构11256 北京市金杜律师事务所;

  • 代理人杨宏军

  • 地址 日本神奈川县

  • 入库时间 2022-08-23 09:02:42

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2009-06-24

    授权

    授权

  • 2004-07-14

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2004-05-12

    公开

    公开

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