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公开/公告号CN111604247B
专利类型发明专利
公开/公告日2022-05-03
原文格式PDF
申请/专利权人 武汉钢铁有限公司;
申请/专利号CN202010403148.5
发明设计人 杜蓉;白会平;刘星;雷泽红;杨宏武;谢芬;涂元强;周小舟;
申请日2020-05-13
分类号B05D7/14;B05C11/10;B05C1/08;B05D1/28;B05D3/02;
代理机构湖北武汉永嘉专利代理有限公司;
代理人钟锋
地址 430083 湖北省武汉市青山区厂前2号门内
入库时间 2022-08-23 13:35:13
机译:采用液面自组织的方法在洁净的玻璃片表面铺设单层六方密排的聚苯乙烯胶体球阵列,通过改变等离子 刻蚀的时间实现对胶体小球的直径控制,结合离子溅射Au膜和磁控溅射MoO2膜,最终构筑成为一种新颖的MoO2/Au微纳阵列结构,利用扫描电镜对所合成材料进行形貌表征;同时重点利用接触角测量仪对 微纳阵列薄膜的浸润性进行研究,分析水在微纳阵列表面所形成的接触角的角度变化,结果显示沉积 MoO2/Au微纳阵列比相应的Au微纳阵列更加亲水,有利于材料在水溶液中进行电化学反应。
机译:涂膜薄膜厚度测量和管理方法的研究。1:使用反弹型硬度计测量氨基甲酸酯橡胶涂膜薄膜厚度的方法
机译:在线膜厚度载膜厚度测量:高速,高精度,强烈的“线扫胶厚千杯”
机译:防水涂膜的膜厚测定及控制方法的研究第1部分:使用回弹式硬度计的聚氨酯橡胶系涂膜防水层的膜厚的测定方法
机译:A Bayesian Framework for Estimating Seismic Wave Arrival Time =一种估计地震波到达时间的贝叶斯方法
机译:制备高精度牙预备体肩台的临床路径和预备方法
机译:一种微处理器控制的膜厚测量仪器