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一种可集成功率半导体器件及其制造方法

摘要

本发明提供一种可集成功率半导体器件及其制造方法,包括集成于同一芯片上的纵向高压器件、第一高压pLDMOS器件、高压nLDMOS器件、第二高压pLDMOS器件、低压NMOS器件、低压PMOS器件、低压NPN器件和低压Diode器件,第一高压pLDMOS器件、高压nLDMOS器件、第二高压pLDMOS器件、低压NMOS器件、低压PMOS器件、低压NPN器件和低压Diode器件均采用介质隔离,第一高压pLDMOS器件、高压nLDMOS器件采用多沟道设计,第二高压pLDMOS器件采用单沟道设计,本发明提出一种部分埋氧的集成技术,采用离子注入等方式形成埋氧层,这种技术可集成横向高压器件、纵向高压器件以及低压器件,且无漏电流与串扰问题,相比横向高压器件而言,具有更低的导通电阻且占用更小的芯片面积。

著录项

  • 公开/公告号CN110556388B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-01-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 电子科技大学;

    申请/专利号CN201910845004.2

  • 发明设计人 乔明;何林蓉;李怡;赖春兰;张波;

    申请日2019-09-07

  • 分类号H01L27/12(20060101);H01L21/84(20060101);

  • 代理机构51232 成都点睛专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人敖欢

  • 地址 611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号

  • 入库时间 2022-08-23 13:02:23

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