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公开/公告号CN110282598B
专利类型发明专利
公开/公告日2021-12-28
原文格式PDF
申请/专利权人 苏州美图半导体技术有限公司;
申请/专利号CN201910618100.3
发明设计人 冒薇;段仲伟;马冬月;祝翠梅;姚园;许爱玲;
申请日2019-07-10
分类号B81C1/00(20060101);
代理机构32288 南京思拓知识产权代理事务所(普通合伙);
代理人苗建
地址 215123 江苏省苏州市工业园区星湖街218号生物纳米园A7楼506室
入库时间 2022-08-23 12:52:51
机译: 低温晶圆键合的方法及键合结构
机译: 低温晶圆键合和键合结构的方法
机译: 晶圆低温键合的方法
机译:低温晶圆键合中晶圆级键合强度均匀性的动态研究
机译:使用点压键合技术和水玻璃粘合层的改进的低温晶圆键合方法
机译:通过起泡测试方法进行多种低温晶圆键合和键合强度测量
机译:低温直接晶圆对晶圆键合,实现3D集成:直接键合,表面准备,晶圆间对准
机译:通过低温芯片对晶圆键合将铟镓砷MSM阵列与硅平台进行3D集成。
机译:金膜厚度和表面粗糙度对室温晶圆键合和金-金表面活化键合的晶圆级真空密封的影响
机译:低温,高强度,晶圆与晶圆键合
机译:微波加热低压低温密封晶圆键合