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半导体结构及形成方法、静态随机存取存储器及形成方法

摘要

一种半导体结构及形成方法、以及静态随机存取存储器及形成方法,其中半导体结构的形成方法包括:提供基底,基底包括相邻的器件区,器件区基底表面具有第一鳍部;在基底表面形成隔离结构,隔离结构顶部低于第一鳍部顶部,且覆盖第一鳍部部分侧壁,隔离结构包括第一区和第二区,第一区和第二区分别与各第一鳍部相对两侧侧壁接触,第一区位于相邻第一鳍部之间,第一区隔离结构顶部高于第二区隔离结构顶部;以隔离结构为掩膜,在第一鳍部内形成第一掺杂层,部分第一掺杂层位于第二区;在第一掺杂层和基底表面、以及第一鳍部侧壁形成介质层,介质层内具有第一接触孔,第一接触孔底部暴露出第一掺杂层顶部和第二区第一掺杂层侧壁。所形成器件性能较好。

著录项

  • 公开/公告号CN110473832B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-11-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201810448723.6

  • 发明设计人 王楠;

    申请日2018-05-11

  • 分类号H01L21/8234(20060101);H01L27/088(20060101);H01L27/11(20060101);H01L21/8244(20060101);

  • 代理机构11227 北京集佳知识产权代理有限公司;

  • 代理人徐文欣;吴敏

  • 地址 201203 上海市浦东新区张江路18号

  • 入库时间 2022-08-23 12:47:38

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