一种高效的晶圆连续失效芯片数量统计算法

摘要

本发明提供一种高效的晶圆连续失效芯片数量统计算法，包括：步骤一、初始化所有坐标，二、得到初始化为全0的矩阵A，三、测试完一个芯片后，将矩阵A对应位置设置成0或者1，1表示失效，如果是1则运算此芯片周围的8个芯片，四、情况一：8个芯片都不在连续失效芯片队列中，则此时连续失效芯片的数量为N+1，情况二：芯片中有M个在连续失效芯片队列Q1中，有N个在Q2中，则从Q1，Q2中各取出一个芯片记作Die1，Die2，则连续失效芯片的数量为V(Die1)+V(Die2)+1，情况三：M个孤立，N个在队列Q1中，此时连续失效芯片的数量为M+V(Die1)+1。本发明能有效提高监控和操作效率，提高监视的便利性。