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基于冗余位的比较器失调电压校准方法

摘要

基于冗余位的比较器失调电压校准方法,属于模拟集成电路技术领域。本发明基于DAC电容阵列包括冗余位电容的SAR ADC,首先利用DAC电容阵列对0采样并量化得到第一量化码字,然后利用DAC电容阵列中的量化电容对输入电压采样并量化得到第二量化码字,将第二量化码字减去第一量化码字与理想量化码字的差值,即可得到经过校准比较器失调电压之后的SAR ADC的输出量化码字,最后将输出量化码字的位数转换为正确位数即完成校准。本发明具有灵活性高、可校准的失调电压范围大和完全保证了SAR ADC的量化范围的特点。

著录项

  • 公开/公告号CN108988859B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-09-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 电子科技大学;

    申请/专利号CN201810987975.6

  • 申请日2018-08-28

  • 分类号H03M1/06(20060101);

  • 代理机构51232 成都点睛专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人葛启函

  • 地址 611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号

  • 入库时间 2022-08-23 12:26:45

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