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有金属氧化物半导体变容二极管的半导体器件及制造方法

摘要

本发明公开了一种具有MOS变容二极管的半导体器件及其制造方法。MOS变容二极管包括金属栅极电极、置于金属栅极电极和半导体衬底之间的有源半导体板、和置于金属栅极电极和有源半导体板之间的电容器介电层。另外,下部绝缘层将MOS变容二极管与半导体衬底绝缘。根据本发明,金属栅极电极用于减少多晶硅耗尽,从而增大变容二极管的调谐范围,并制造可靠的金属电阻器而无需额外的光掩模。

著录项

  • 公开/公告号CN100449758C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2009-01-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 三星电子株式会社;

    申请/专利号CN200510078351.5

  • 发明设计人 金大铉;吴汉洙;

    申请日2005-02-08

  • 分类号

  • 代理机构北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人李晓舒

  • 地址 韩国京畿道

  • 入库时间 2022-08-23 09:01:56

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2011-04-20

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 27/06 授权公告日:20090107 终止日期:20100208 申请日:20050208

    专利权的终止

  • 2009-01-07

    授权

    授权

  • 2006-03-01

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2006-01-04

    公开

    公开

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