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一种缺陷检测系统、检测方法及电子束扫描机台

摘要

本发明提供了一种缺陷检测系统、检测方法及电子束扫描机台,该缺陷检测系统包括光源部件;检测部件,包括光斑选择板,光斑选择板上设有通孔,通孔的宽度沿第一方向逐渐递增或逐渐递减,光斑选择板能够沿第一方向移动,光线与第一方向垂直且光线的至少一部分能够穿过通孔;驱动部件,用于驱动检测部件沿第二方向移动,第二方向与第一方向垂直;接收部件,用于接收穿过通孔的光线并将接收的光线转化为光斑数字图像;以及处理器,用于接收光斑数字图像,并根据光斑数字图像确定与光斑数字图像对应的高度尺寸。本发明提供的缺陷检测系统结构简单、操作方便,利用不同的光斑数字图像对应不同的高度尺寸,快速实现对样品表面缺陷的高度或深度的检测。

著录项

  • 公开/公告号CN110095491B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-08-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海华力微电子有限公司;

    申请/专利号CN201910386157.5

  • 申请日2019-05-09

  • 分类号G01N23/2251(20180101);G01B15/00(20060101);G01B15/02(20060101);

  • 代理机构31237 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人屈蘅

  • 地址 201315 上海市浦东新区良腾路6号

  • 入库时间 2022-08-23 12:20:33

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