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公开/公告号CN110095491B
专利类型发明专利
公开/公告日2021-08-20
原文格式PDF
申请/专利权人 上海华力微电子有限公司;
申请/专利号CN201910386157.5
发明设计人 胡向华;欧阳余庆;何广智;顾晓芳;倪棋梁;
申请日2019-05-09
分类号G01N23/2251(20180101);G01B15/00(20060101);G01B15/02(20060101);
代理机构31237 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙);
代理人屈蘅
地址 201315 上海市浦东新区良腾路6号
入库时间 2022-08-23 12:20:33
机译: 电子束检测方法,用于扫描型电子显微镜的电子束检测方法,用于扫描型电子显微镜的尺寸校准方法以及用于电子束检测装置和扫描型电子显微镜的尺寸校准装置
机译: 晶圆缺陷检测方法和使用该缺陷检测方法的晶圆缺陷检测系统
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