公开/公告号CN100458450C
专利类型发明授权
公开/公告日2009-02-04
原文格式PDF
申请/专利权人 株式会社日立制作所;
申请/专利号CN200480018666.4
申请日2004-07-02
分类号G01R1/073(20060101);
代理机构11243 北京银龙知识产权代理有限公司;
代理人郭晓东
地址 日本东京都
入库时间 2022-08-23 09:01:51
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2013-08-21
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 1/073 授权公告日:20090204 终止日期:20120702 申请日:20040702
专利权的终止
2009-02-04
授权
授权
2006-10-04
实质审查的生效
实质审查的生效
2006-08-09
公开
公开
机译: 使用在半导体材料制成的板上的光栅腐蚀的平台探针来制造用于扫描探针显微镜的粒子探针的装置,具有用于具有多个光栅腐蚀的平台探针的板的侧向定位器
机译: 使用探针片的探针卡和半导体测试装置或探针卡半导体装置的制造方法
机译: 使用探针片的探针卡和半导体测试装置或探针卡和半导体装置的制造方法