首页> 中国专利> 一种InP HEMT器件噪声等效电路模型建立方法

一种InP HEMT器件噪声等效电路模型建立方法

摘要

本发明涉及一种InP HEMT器件噪声等效电路模型建立方法,包括:建立具有表征沟道分布效应和衬底损耗效应的InP HEMT小信号等效电路模型,并进行参数提取;对InP HEMT小信号等效电路模型添加噪声电流源,得到InP HEMT噪声等效电路;对InP HEMT噪声等效电路的噪声参数进行表征;获取InP HEMT器件的级联噪声相关矩阵,并对其进行寄生参数去嵌,得到本征导纳噪声矩阵;根据小信号等效电路模型参数和本征导纳噪声矩阵,得到噪声参数;将噪声参数嵌入至InP HEMT噪声等效电路,得到InP HEMT器件噪声等效电路模型。本发明方法在噪声相关系数中引入虚数分量,表征沟道分布效应的噪声,同时引入衬底损耗效应噪声因子,表征衬底损耗效应的噪声,提高了模型在高频下的拟合精度。

著录项

  • 公开/公告号CN110717240B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-08-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安电子科技大学;

    申请/专利号CN201910796831.7

  • 申请日2019-08-27

  • 分类号G06F30/20(20200101);G06F30/30(20200101);G06F30/32(20200101);G06F17/16(20060101);G06F119/10(20200101);

  • 代理机构61230 西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人张捷

  • 地址 710071 陕西省西安市太白南路2号

  • 入库时间 2022-08-23 12:16:57

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号