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用等离子体辅助分子束外延以准范德华外延生长高质量ZnO单晶薄膜的方法

摘要

本发明公开了一种用等离子体辅助分子束外延以准范德华外延生长高质量ZnO单晶薄膜的方法。将清洗处理后氮气吹干的氟晶云母衬底放入分子束外延设备中,衬底温度加热至300~800℃,将纯O2经过射频活化形成的氧等离子体作为O源,调节生长室真空度为1×10‑6~1×105Torr,以纯金属Zn为金属源,在衬底上外延ZnO单晶薄膜。采用本发明方法可以以准范德华外延方式生长高质量的ZnO单晶薄膜,为低成本、大尺寸、柔性、自支撑ZnO基量子阱光电器件奠定基础。

著录项

  • 公开/公告号CN111334856B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-08-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 浙江大学;

    申请/专利号CN202010099954.8

  • 申请日2020-02-18

  • 分类号C30B25/18(20060101);C30B29/16(20060101);C30B29/64(20060101);

  • 代理机构33200 杭州求是专利事务所有限公司;

  • 代理人万尾甜;韩介梅

  • 地址 310058 浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号

  • 入库时间 2022-08-23 12:15:37

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