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利用光线扫描的干涉型纳米表面三维在线测量系统及方法

摘要

利用光线扫描的干涉型纳米表面三维在线测量系统及方法,共路干涉结构,抑制了环境干扰。光栅将谱宽40nm的光束色散成波长在空间连续分布的光片,经准直成平行光片,平柱透镜的柱面镀有半透半反膜,故一半光强被反射沿原路返回作为参考光,另一半光强被聚焦成光线,不同波长被不同被测点反射回系统,与参考光干涉后又被色散成波长在空间连续分布的光片,由线阵CCD探测。CCD不同像元探测到不同波长干涉信号,测出每个像元干涉信号相位变化量,即测出对应被测点纵向变化值。一次定位,完成表面二维测量;光线横向扫描,完成表面三维测量。极大提高测量速度,降低成本。利用光程跟踪扩大量程,使量程达300μm;分辨率优于0.1nm。

著录项

  • 公开/公告号CN100455986C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2009-01-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京交通大学;

    申请/专利号CN200710099709.1

  • 发明设计人 谢芳;

    申请日2007-05-29

  • 分类号G01B9/023(20060101);

  • 代理机构11255 北京市商泰律师事务所;

  • 代理人吴克宇;毛燕生

  • 地址 100044 北京市西直门外上园村3号

  • 入库时间 2022-08-23 09:01:38

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-07-25

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01B 9/023 授权公告日:20090128 终止日期:20110529 申请日:20070529

    专利权的终止

  • 2009-01-28

    授权

    授权

  • 2007-12-12

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-10-17

    公开

    公开

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