法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2014-10-01
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01B 11/00 授权公告日:20090527 终止日期:20130808 申请日:20070808
专利权的终止
2009-05-27
授权
授权
2008-03-05
实质审查的生效
实质审查的生效
2008-01-16
公开
公开
机译: 用于测量纳米结构物体高度的三维非接触式纳米形貌方法干涉式高度传感器产生的微光场,涉及固定参考表面和被检物体
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