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合成波干涉纳米表面三维在线测量系统及方法

摘要

合成波干涉纳米表面三维在线测量系统及方法,量程决定于合成波长,共路干涉结构。利用双周期光栅的双色散特性将谱宽40nm光束色散成两个波长在空间连续均匀分布的扇形光片,经准直成两个横向错位并部分重叠的平行光片,重叠部分形成合成波。合成波平行光片经过平面镀半透半反膜的平柱聚焦透镜,一半光强被反射作为参考光,另一半光强被聚焦成光线,由不同被测点反射,与参考光干涉后由线阵CCD探测。测出CCD每个像素干涉信号相位变化量,即测出对应被测点纵向变化值。一次定位完成表面二维测量;光线横向扫描完成表面三维测量。测量速度高,成本低。测量量程600~1000μm,分辨率优于5nm,适用于具有凸台和深槽的纳米表面测量。

著录项

  • 公开/公告号CN100491901C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2009-05-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京交通大学;

    申请/专利号CN200710120079.1

  • 发明设计人 谢芳;

    申请日2007-08-08

  • 分类号G01B11/00(20060101);G01B11/02(20060101);G01B11/24(20060101);G01B9/02(20060101);G02B27/00(20060101);

  • 代理机构11255 北京市商泰律师事务所;

  • 代理人吴克宇;毛燕生

  • 地址 100044 北京市西直门外上园村3号

  • 入库时间 2022-08-23 09:02:24

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-10-01

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01B 11/00 授权公告日:20090527 终止日期:20130808 申请日:20070808

    专利权的终止

  • 2009-05-27

    授权

    授权

  • 2008-03-05

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-01-16

    公开

    公开

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