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利用合成波干涉全场纳米表面三维在线测量方法和系统

摘要

本发明公开了一种利用合成波干涉全场纳米表面三维在线测量方法和系统,量程决定于合成波长,共路干涉结构。双周期光栅的双色散特性将谱宽40nm光束色散成两个波长在空间连续均匀分布的扇形光片,经准直成两个横向错位并部分重叠的平行光片,重叠部分形成合成波。合成波平行光片经两个共焦平柱透镜扩束,再经一面镀半透半反膜的平行玻璃板,一半光强被反射作为参考光,另一半光强由不同被测点反射,与参考光干涉后由面阵CCD探测。测出CCD每个像素干涉信号相位变化量,即测出对应被测点纵向变化值。一次定位完成表面三维测量。测量速度高,成本低。测量量程600~1000μm,分辨率优于5nm,适用于具有凸台和深槽的纳米表面测量。

著录项

  • 公开/公告号CN100455987C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2009-01-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京交通大学;

    申请/专利号CN200710120661.8

  • 发明设计人 谢芳;张琳;

    申请日2007-08-23

  • 分类号G01B11/00(20060101);G01B11/03(20060101);G01B9/02(20060101);G02B27/00(20060101);

  • 代理机构11255 北京市商泰律师事务所;

  • 代理人吴克宇;毛燕生

  • 地址 100044 北京市西直门外上园村3号

  • 入库时间 2022-08-23 09:01:49

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2012-10-24

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01B 11/00 授权公告日:20090128 终止日期:20110823 申请日:20070823

    专利权的终止

  • 2009-01-28

    授权

    授权

  • 2008-03-12

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-01-23

    公开

    公开

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