首页> 中国专利> 基于衬底深层离子注入的单晶Si太阳电池抗位移辐照方法

基于衬底深层离子注入的单晶Si太阳电池抗位移辐照方法

摘要

一种基于衬底深层离子注入的单晶Si太阳电池抗位移辐照方法,属于太阳电池微电子技术领域。本发明针对现有太阳电池由于空间带电粒子的辐照会产生辐照缺陷,进而造成太阳电池I‑V特性退化的问题。它根据原单晶Si太阳电池的结构参数,确定离子的欲注入位置,并根据欲注入位置模拟确定离子的能量和射程;然后模拟离子注入过程中的目标I‑V变化曲线,当目标I‑V变化曲线的变化量小于原单晶Si太阳电池I‑V变化曲线的10%时,记录离子注入量;再计算离子注入机的离子源电压、离子束电流和离子注入时间;设置离子注入机,对原单晶Si太阳电池进行离子注入并进行退火处理,实现对原单晶Si太阳电池的抗位移辐照加固。本发明用于单晶Si太阳电池的加固。

著录项

  • 公开/公告号CN110459649B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-04-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 哈尔滨工业大学;

    申请/专利号CN201910774690.9

  • 申请日2019-08-21

  • 分类号H01L31/18(20060101);

  • 代理机构23109 哈尔滨市松花江专利商标事务所;

  • 代理人张利明

  • 地址 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号

  • 入库时间 2022-08-23 11:41:44

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号