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公开/公告号CN111856233B
专利类型发明专利
公开/公告日2021-04-27
原文格式PDF
申请/专利权人 武汉大学;
申请/专利号CN202010635550.6
发明设计人 何怡刚;李猎;何鎏璐;王晨苑;时国龙;
申请日2020-07-03
分类号G01R31/26(20140101);
代理机构42102 湖北武汉永嘉专利代理有限公司;
代理人张宇
地址 430072 湖北省武汉市武昌区八一路299号
入库时间 2022-08-23 11:41:19
机译: 基于粘接线劣化的IGBT模块可靠性评估方法和装置
机译: 基于冲击增量的状态枚举可靠性评估方法及其装置
机译: 基于影响增量及其装置的状态枚举可靠性评估方法
机译:用于IGBT模块中引线键合接口质量和可靠性评估的微型切片方法
机译:使用Al_2Cu沉淀物增强IGBT模块中厚厚的Al-Cu引线键合的可靠性
机译:大功率IGBT模块的不同引线键合技术的可靠性和寿命评估
机译:引线键合布局对IGBT模块可靠性的影响
机译:在引线键合技术中,研究低k裸片上直径为0.8密耳(20微米)的金键合引线的球形键合完整性。
机译:热电偶延伸引线或引线温度变化时温度测量的可靠性和有效性
机译:电动汽车驱动IGBT模块中引线键合故障的现场诊断和预测
机译:用两种煤转化装置模型证明可靠性评估方法的结果。最终报告,1975年3月31日 - 1975年6月6日。