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厚度一致的硅气相外延层的生长装置及生长方法

摘要

本发明公开了一种厚度一致的硅气相外延层的生长装置及生长方法,旨在提供一种外延层厚度一致,便于操作,效率高的硅气相外延层的生长装置及生长方法。该生长装置包括基座本体,在基座本体上有安放槽,安放槽底部的边缘有宽度为1~3mm的台阶,台阶上有深度为1~3mm的环形沟槽,环形沟槽最上端的宽度为1~3mm,台阶下有深度为1~5mm的弧形凹坑。该生长方法包括下述步骤:将硅衬底片放入上述基座的安放槽中,并使硅衬底片上表面低于基座上表面0.1~1mm,之后生长外延层。本发明的工艺简单,既能使外延层厚度一致,同时又能控制滑移线的分布面积,并能消除沉积在表面的金属杂质污染层,提高了硅外延片的质量,保证了产品的性能。

著录项

  • 公开/公告号CN100425744C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2008-10-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 河北工业大学;

    申请/专利号CN200610014043.0

  • 发明设计人 刘玉岭;张建新;黄妍妍;

    申请日2006-06-02

  • 分类号

  • 代理机构天津市三利专利商标代理有限公司;

  • 代理人肖莉丽

  • 地址 300130 天津市红桥区光荣道8号

  • 入库时间 2022-08-23 09:01:29

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2010-08-04

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):C30B 25/02 授权公告日:20081015 申请日:20060602

    专利权的终止

  • 2008-10-15

    授权

    授权

  • 2008-07-23

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-01-17

    公开

    公开

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