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同轴谐振腔复介电常数高温测试系统及方法

摘要

本发明提供了一种同轴谐振腔复介电常数高温测试系统及方法,测试系统包括:测试部分、加热冷却及温控部分,测试方法的步骤包括测试空腔的谐振频率和品质因数,放入杆状样品,盖上金属上端盖并固定,由上端盖中间设置的通孔充入保护气,开启感应加热设备与水冷循环,当样品区被加热到所需温度并恒温一段时间后,进行测试;利用矢量网络分析仪测出谐振腔放入样品前后的谐振频率与品质因数,可计算出样品的介电常数和损耗角正切值;本发明可针对固体、液体以及粉末材料,在不同温度下的介电性能进行测试,可以通过外部感应设备对加热功率及加热速率进行控制,实现测试温度1200℃以上。

著录项

  • 公开/公告号CN108680839B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-04-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 电子科技大学;

    申请/专利号CN201810530959.4

  • 申请日2018-05-29

  • 分类号G01R31/12(20060101);

  • 代理机构51232 成都点睛专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人敖欢;葛启函

  • 地址 611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号

  • 入库时间 2022-08-23 11:40:13

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