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线宽测量系统和线宽测量装置

摘要

本发明公开了一种测量系统,包括线宽测量单元、焦面检测及轮廓测量单元、离焦粗测单元和标记搜索定位单元。所述测量系统可以实现CD测量、标记搜索定位、剖面轮廓测量与焦面检测。本发明还公开了一种线宽测量系统,包括线宽测量单元与焦面检测及轮廓测量单元、离焦粗测单元和标记搜索定位单元中至少一个。本发明还公开了一种线宽测量装置。本发明还公开了一种线宽测量方法。

著录项

  • 公开/公告号CN109211117B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-04-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海微电子装备(集团)股份有限公司;

    申请/专利号CN201710527292.8

  • 发明设计人 范纪铭;徐兵;周畅;陈跃飞;

    申请日2017-06-30

  • 分类号G01B11/02(20060101);G01B11/25(20060101);

  • 代理机构31237 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人屈蘅;李时云

  • 地址 201203 上海市浦东新区张东路1525号

  • 入库时间 2022-08-23 11:38:37

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