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一种线宽测量方法和线宽测量系统

摘要

本申请公开了一种线宽测量方法和线宽测量系统,所述线宽测量方法包括以下步骤:获取待测产品的工艺类型;根据所述待测产品的工艺类型对所述线宽测量机进行机差调整;采用机差调整后的线宽测量机对所述待测产品进行线宽测量。线宽测量机对不同工艺类型的待测产品进行线宽测量前都进行了相应的机差调整,及时消除机差对测量结果的影响,保证了不同工艺类型的待测产品的产险判断,提高了不同工艺类型的待测产品的品质。

著录项

  • 公开/公告号CN110057330B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-03-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 TCL华星光电技术有限公司;

    申请/专利号CN201910282144.3

  • 发明设计人 曾赞廷;褚忠涛;

    申请日2019-04-09

  • 分类号G01B21/02(20060101);

  • 代理机构44300 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙);

  • 代理人黄威

  • 地址 518132 广东省深圳市光明新区塘明大道9-2号

  • 入库时间 2022-08-23 11:36:24

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