首页> 中国专利> 一种基于误差估计的集成电路的电磁响应确定方法及系统

一种基于误差估计的集成电路的电磁响应确定方法及系统

摘要

本发明涉及一种基于误差估计的集成电路的电磁响应确定方法及系统。所述方法包括:根据集成电路的电磁响应仿真频段范围确定多个均匀分布的初始频率点;利用粗颗粒并行方法计算初始频率点的电磁响应,并确定第一电磁响应序列以及第二电磁响应序列;确定两条三次样条插值曲线;根据最大误差估计确定第三三次样条插值曲线的采样步长,使得第三三次样条插值曲线的最大误差估计小于仿真曲线的最大允许误差;根据采样步长确定初始频率点之间新插入的频率点;利用粗颗粒并行方法计算所有新插入的频率点的电磁响应,对所有频率点的电磁响应进行三次样条插值确定最终的集成电路电磁响应曲线。本发明两次粗颗粒并行计算即能准确计算出集成电路的电磁响应。

著录项

  • 公开/公告号CN112232002B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-03-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京智芯仿真科技有限公司;

    申请/专利号CN202011425196.0

  • 申请日2020-12-09

  • 分类号G06F30/33(20200101);

  • 代理机构44453 深圳市行一知识产权代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人杨贤

  • 地址 100000 北京市海淀区信息路甲28号B座(二层)02B室-350号

  • 入库时间 2022-08-23 11:35:11

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号