一种基于V58300平台的集成电路功能测试系统设计

田强; 杨婉婉; 李力南; 郭刚; 蔡莉; 刘海南; 罗家俊

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一种基于V58300平台的集成电路功能测试系统设计

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基于中科院微电子所自主研发的V58300硬件平台,设计实现了一种集成电路功能测试系统.该系统包含上位机与下位机两部分,通过在上位机实时更改测试系统相关I/O的定义和输入的测试向量文件,即可自动完成对各种运行频率在25 MHz及以下,I/O数量在48位及以下双列直插(DIP)封装集成电路的功能测试,实现了测试系统的通用化和低成本化.最后通过实验证明本测试系统可以有效地对相关芯片进行功能测试.

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来源
《太赫兹科学与电子信息学报》|2021年第3期|537-540|共4页
作者
田强; 杨婉婉; 李力南; 郭刚; 蔡莉; 刘海南; 罗家俊;
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作者单位

北京交通大学电子信息工程学院北京 100044;

中国科学院微电子研究所北京 100029;

中国科学院硅器件技术重点实验室北京 100029;

中国科学院微电子研究所北京 100029;

中国科学院硅器件技术重点实验室北京 100029;

北京交通大学电子信息工程学院北京 100044;

中国原子能科学研究院核物理研究所北京 102413;

国防科技工业抗辐照应用技术创新中心北京 102413;

中国原子能科学研究院核物理研究所北京 102413;

国防科技工业抗辐照应用技术创新中心北京 102413;

中国科学院微电子研究所北京 100029;

中国科学院硅器件技术重点实验室北京 100029;

中国科学院微电子研究所北京 100029;

中国科学院硅器件技术重点实验室北京 100029;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类测试和检验;
关键词
现场可编程门阵列; 集成电路测试; 测试向量; 功能测试;
入库时间 2023-07-25 18:41:10

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