一种基于数字信号集成电路测试系统EVA100的DDR3功能测试平台

摘要

本发明属于数字集成电路测试领域，具体涉及一种基于数字信号集成电路测试系统EVA100的DDR3功能测试平台，该平台包括EVA100测试机台、FPGA中控板和待测DDR3芯片，其中FPGA中控板包括FPGA最小系统，电源配电网络、LED电路、DDR3电路、EVA控制接口电路，FPGA最小系统包括FPGA芯片、时钟电路、复位电路和配置电路；其中FPGA芯片中包括信号同步处理模块以及DDR3测控模块，信号同步处理模块通过EVA控制接口电路实现与EVA100测试机台之间的数据收发，对来自EVA100测试机台的数据帧进行同步解析，并根据解析结果选择测试运行模式，通过DDR3测控模块完成指定的功能测试操作，并最终将测试结果同步反馈给EVA100测试机台；DDR3测控模块实现对待测DDR3芯片的测试流程控制与功能测试。