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公开/公告号CN106601664B
专利类型发明专利
公开/公告日2021-02-19
原文格式PDF
申请/专利权人 台湾积体电路制造股份有限公司;
申请/专利号CN201610651829.7
发明设计人 吴永旭;陈海清;蔡荣训;眭晓林;包天一;
申请日2016-08-10
分类号H01L21/768(20060101);H01L23/532(20060101);
代理机构11409 北京德恒律治知识产权代理有限公司;
代理人章社杲;李伟
地址 中国台湾新竹
入库时间 2022-08-23 11:32:10
机译: 用于形成自对准通孔的方法和装置,其选择性地沉积蚀刻停止层
机译: 用选择性沉积的蚀刻停止层形成自对准通孔的方法和装置
机译:超精细图案2显示为灰色形成,它结合了原子层沉积的装置和蚀刻装置
机译:一种在助催化剂上使用Ta帽层形成自对准碳纳米管通孔的方法
机译:使用聚合物刷介导的选择性渗透方法通过原子层沉积形成氧化铝
机译:使用深反应离子蚀刻和铝蚀刻停止层同时通过硅通孔和大腔体形成
机译:电化学蚀刻锗和砷化镓形成的多孔层,用于高能效多结太阳能电池的分裂工程层转移(CELT)应用。
机译:通过化学蚀刻和通过原子层沉积(ALD)沉积二氧化钛薄膜在纳米钛表面上形成微结构和纳米结构
机译:通过金属有机化学气相沉积用n-alGaN填充通孔,在n + si衬底上的alN缓冲层中形成导电自发通孔,并应用于垂直深紫外光传感器
机译:从Gaas-on-si晶片选择性等离子蚀刻si用于微波通孔形成