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穿硅通孔填充工艺

摘要

本发明涉及穿硅通孔填充工艺,并揭示一种半导体电镀工艺,其以实质上无空隙的方式将铜沉积到穿硅通孔中以完全填充所述穿硅通孔。所述穿硅通孔的直径可大于约3微米,且其深度可大于约20微米。使用低铜浓度且高酸度的电镀溶液来将铜沉积到所述穿硅通孔中。

著录项

  • 公开/公告号CN105845558B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-01-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 诺发系统有限公司;

    申请/专利号CN201610319106.7

  • 申请日2009-08-17

  • 分类号H01L21/288(20060101);H01L21/768(20060101);H01L21/98(20060101);C25D3/38(20060101);C25D7/12(20060101);C25D17/00(20060101);C25D21/12(20060101);

  • 代理机构11287 北京律盟知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人沈锦华

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2022-08-23 11:30:27

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