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一种MEMS电容式陀螺仪敏感结构品质因数Q值的获取方法

摘要

本发明公开了一种MEMS电容式陀螺仪敏感结构品质因数Q值的获取方法,设定一个采样时间阈值长度,采样时间阈值长度大于设定时间长度,计算输出信号衰减时间常数:第一步:以所述设定时间长度结束为起点对顺序获得的采样点信号幅值进行判断获得衰减过程连续有效点,直至达到采样时间阈值长度后结束、获得有效点的集合,第二步:建立时间常数计算坐标,将采样点信号幅值数组作为纵坐标赋值衰减过程连续有效点集合,将采样时间间隔数组作为横坐标,做有效点集合线性回归,并由此计算出时间常数。通过对数据的过滤避免传统方式对整个包络线全部数据的处理,减少了数据的处理量,提高了测试效率,解决大数据量计算慢和一致性度不够高的问题。

著录项

  • 公开/公告号CN110553666B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-12-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京博达微科技有限公司;

    申请/专利号CN201910821040.5

  • 发明设计人 李淼;赵建颖;李严峰;杨宇生;

    申请日2019-09-02

  • 分类号G01C25/00(20060101);

  • 代理机构11001 北京国林贸知识产权代理有限公司;

  • 代理人李桂玲;杜国庆

  • 地址 101300 北京市顺义区仁和镇澜西园三区37号楼1层109室(科技创新功能区)

  • 入库时间 2022-08-23 11:25:47

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