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飞针测试机的对位方法

摘要

本发明提供了一种飞针测试机的对位方法,包括:获取拼板PCB上各PCB板坐标范围;根据PCB板坐标范围获取各组合PCB坐标范围;确定第一组合PCB上两个第一对位点的第一坐标和第二坐标;确定第二组合PCB与第一组合PCB的第一偏差坐标;根据第一偏差坐标、第一坐标和第二坐标确定第二组合PCB的两个第二对位点的第三坐标和第四坐标;令第一测试轴移动至第一坐标并获取第一机械坐标及第一模板图像;令第二测试轴移动至第二坐标并获取第二机械坐标及第二模板图像;令第一测试轴移动至第三坐标并获取第三机械坐标及第三模板图像;令第二测试轴移动至第四坐标并获取第四机械坐标及第四模板图像。本发明保证了对位精度,实现了测试轴在拼板PCB上的快速对位。

著录项

  • 公开/公告号CN109596971B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-12-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 深圳市大族数控科技有限公司;

    申请/专利号CN201811434346.7

  • 申请日2018-11-28

  • 分类号G01R31/28(20060101);G01N21/956(20060101);G01N21/84(20060101);

  • 代理机构44325 深圳众鼎专利商标代理事务所(普通合伙);

  • 代理人谭果林

  • 地址 518101 广东省深圳市宝安区沙井街道新沙路安托山高科技工业园3#厂房五层、14#厂房一二层、17#厂房

  • 入库时间 2022-08-23 11:25:40

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