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NMOS型栅体互连光电探测器及其制备方法

摘要

本发明公开了一种NMOS型栅体互连光电探测器及其制备方法,光电探测器由栅体互连NMOS晶体管和光电二极管复合而成;在P型半导体衬底上,由N型杂质注入形成N阱,在N阱内通过P型杂质注入形成T阱;在T阱中通过掺杂或离子注入形成NMOS晶体管,将NMOS晶体管的栅体互连。包括:在热生长的二氧化硅栅氧层上用化学气相淀积法淀积多晶硅,干法刻蚀出多晶硅栅图形;离子注入分别制作出NMOS晶体管的源、漏、P型衬底和N阱、T阱接触区;光刻出NMOS晶体管源极、漏极、栅极,及P型衬底和N阱、T阱接触区的引线孔,淀积一层金属膜,光刻出晶体管和接触区的电极图形;利用光刻、刻蚀及金属化工艺制备其它高层互连金属,用于将光电流引出至接触焊盘。

著录项

  • 公开/公告号CN108417590B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-11-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 天津大学;

    申请/专利号CN201810108246.9

  • 发明设计人 谢生;董威锋;孙邵凡;毛陆虹;

    申请日2018-02-02

  • 分类号H01L27/146(20060101);

  • 代理机构12201 天津市北洋有限责任专利代理事务所;

  • 代理人李林娟

  • 地址 300072 天津市南开区卫津路92号

  • 入库时间 2022-08-23 11:23:07

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