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公开/公告号CN109059812B
专利类型发明专利
公开/公告日2020-11-24
原文格式PDF
申请/专利权人 太原理工大学;
申请/专利号CN201811058838.0
发明设计人 刘培植;李美芬;王博;郭俊杰;
申请日2018-09-11
分类号G01B15/02(20060101);G01B15/08(20060101);
代理机构11670 北京栈桥知识产权代理事务所(普通合伙);
代理人胡颖
地址 030024 山西省太原市迎泽西大街79号
入库时间 2022-08-23 11:22:40
机译: 一种用于无损精确测量古迹或新建筑物上的结构材料或雕像或雕塑装饰表面上的灰泥厚度,古迹或新建筑物上的金属腐蚀产物的厚度或此类建筑物上其他保护涂层的厚度的方法和装置包括墙壁和木材的材料9
机译: 能够精确测量和分析厚度的纳米氧化薄膜的厚度认证方法
机译: 能够精确控制各层厚度的陶瓷电子元件多层薄膜及其制造方法
机译:精确测量厚多层膜厚度的独特方法
机译:一种精确测量极地冰层中被困空气中氩气40/36和k /氩比的方法,该方法适用于格陵兰岛和南极Siple Dome的过去烧成厚度和突变的气候
机译:一种测量大型液晶显示玻璃基板零件翘曲和厚度的简便方法
机译:测量沉积在多层金属表面上的薄膜的厚度
机译:用于厚度测量和监视多层结构的声学方法。
机译:用数字图像投影(DIP)技术测量曲面上的水滴/薄膜的厚度
机译:一种简单而精确的复杂测量方案 折射率和薄膜厚度
机译:一种改进的薄膜厚度测量方法