一种芯片测试进料方向的调整方法、检测装置、调整系统

摘要

本申请公开了一种芯片测试进料方向的调整方法、检测装置、调整系统，该调整方法包括：利用检测装置侦测芯片的每边设置的第一引脚与第二引脚的电平输出信号，其中，芯片的至少两边分别设置有包括第一引脚和第二引脚的多个引脚，且芯片的非全部边的第一引脚与第二引脚之间连接有正向二极管；检测装置包括接地的第一侦测针和连接检测电路的第二侦测针，第一侦测针和第二侦测针分别与每边的第一引脚与第二引脚接触；根据侦测的芯片的每边对应的电平输出信号，以侦测出芯片中包括正向二极管的边；根据侦测出的芯片中包括正向二极管的边，以确定芯片当前的测试进料方向，并根据需要调整芯片的测试进料方向。通过上述方式，本申请能够确定并根据需要调整芯片当前的测试进料方向。