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具有至2D材料有源区的接触件的场效应晶体管

摘要

本发明实施例描述了具有2D材料层有源区的示例性FET器件及其制造方法。例如,黑磷有源区具有在沟道区中的第一厚度和在源极/漏极(S/D)区中的更大的第二厚度。在S/D区中的BP具有侧壁,该侧壁接触设置在FET上方的接触件。栅电极设置在沟道区上方。在一些实施例中,侧壁具有钝化的边缘。在一些实施例中,侧壁是非线性的。在一些实施例中,应力层设置在2D材料层上方。本发明实施例涉及具有至2D材料有源区的接触件的场效应晶体管。

著录项

  • 公开/公告号CN107591442B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-09-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 台湾积体电路制造股份有限公司;

    申请/专利号CN201710031102.3

  • 发明设计人 叶凌彦;杨育佳;刘继文;

    申请日2017-01-17

  • 分类号H01L29/423(20060101);H01L29/78(20060101);H01L21/336(20060101);

  • 代理机构11409 北京德恒律治知识产权代理有限公司;

  • 代理人章社杲;李伟

  • 地址 中国台湾新竹

  • 入库时间 2022-08-23 11:12:56

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