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一种光电探测器用重掺硅衬底制备高阻外延层的方法

摘要

本发明涉及一种光电探测器用重掺硅衬底制备高阻外延层的方法。将硅衬底片装入外延反应腔体内的外延基座上,依次利用氮气和氢气吹扫外延炉掺杂管道和反应腔体。给外延基座加热,由室温升温至1160℃。在恒温下对硅衬底片烘烤3min,使硅衬底片表面的杂质挥发,使表面形成杂质耗尽区。利用流量周期性快速交替变化,范围为40L/min~400L/min的氢气对反应腔体进行吹扫。进行第一层外延层的生长。利用流量周期性快速交替变化,范围为40L/min~400L/min的氢气对反应腔体进行吹扫。进行第二层外延层的生长。有益效果是:整片区域的电阻率均可满足高于1000Ω·cm的指标,使材料可满足光电探测器的使用要求。

著录项

  • 公开/公告号CN108538713B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-09-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201810332575.1

  • 发明设计人 李明达;唐发俊;薛兵;

    申请日2018-04-13

  • 分类号H01L21/20(20060101);H01L31/18(20060101);

  • 代理机构12105 天津中环专利商标代理有限公司;

  • 代理人李美英

  • 地址 300220 天津市河西区洞庭路26号

  • 入库时间 2022-08-23 11:12:12

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